Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/70052
Название: Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии
Авторы: Дронова, М. В.
Научный руководитель: Ан, Владимир Вилорьевич
Ключевые слова: полупроводниковые пленки; атомно-силовая микроскопия; сульфид меди; электрическая проводимость; преобразование энергии; солнечная энергия; пленки; керамические подложки
Дата публикации: 2014
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Дронова, М. В. Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии / М. В. Дронова ; науч. рук. В. В. Ан // Функциональные материалы: разработка, исследование, применение : сборник тезисов докладов II Всероссийского конкурса научных докладов студентов, г.Томск, г.Тамбов, 22-23 мая 2014 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 41].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/70052
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2014-C96_p41.pdf285,71 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.