Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/70052| Title: | Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии |
| Authors: | Дронова, М. В. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Ан, Владимир Вилорьевич |
| Keywords: | полупроводниковые пленки; атомно-силовая микроскопия; сульфид меди; электрическая проводимость; преобразование энергии; солнечная энергия; пленки; керамические подложки |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Дронова, М. В. Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии / М. В. Дронова ; науч. рук. В. В. Ан // Функциональные материалы: разработка, исследование, применение : сборник тезисов докладов II Всероссийского конкурса научных докладов студентов, г.Томск, г.Тамбов, 22-23 мая 2014 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 41]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/70052 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2014-C96_p41.pdf | 285,71 kB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a Creative Commons License
