Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72958
Название: Атомно-силовая микроскопия в исследовании химических процессов роста игольчатых наноструктур на поверхности стекла К-208
Другие названия: Atomic force microscopy for needle nanostructures chemical processes growth investigation on the surface of K-208 glass
Авторы: Ху Чуаньнин
Воронова, Гульнара Альфридовна
Научный руководитель: Воронова, Гульнара Альфридовна
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия; химические процессы; наноструктуры; поверхности; силикатные стекла; защитные покрытия; солнечные батареи; облучение; электронное излучение
Дата публикации: 2022
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Ху Чуаньнин. Атомно-силовая микроскопия в исследовании химических процессов роста игольчатых наноструктур на поверхности стекла К-208 / Ху Чуаньнин, Г. А. Воронова ; науч. рук. Г. А. Воронова // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIX Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 26-29 апреля 2022 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2022. — Т. 2 : Химия. — [C. 245-247].
Аннотация: The formation of mechanical stresses in the irradiated K-208 glass leads to the rearrangement of the glass microstructure. It is important to develop approaches to testing the surface morphology of K-208 glass during its testing on experimental stands. In this work, we propose and test a method for testing the surface morphology of K-208 glass using atomic force microscopy (AFM). Processing and analysis of the obtained AFM images remains an important task and many factors may affect the quality. These factors include: the state of the microscope probe, scanning time, scanning conditions, etc. To obtain a high-quality image we apply different methods and processing programs.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72958
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2022-C21_V2_p245-247.pdf191,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.