Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336| Title: | Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути |
| Authors: | Селиванов, П. Е. |
| Keywords: | тестирование; комбинационные схемы; проектирование; цифровые устройства; логические схемы |
| Issue Date: | 2015 |
| Citation: | Селиванов П. Е. Тестирование комбинационных схем с неисправностью типа задержка пути / П. Е. Селиванов // Информационные технологии в науке, управлении, социальной сфере и медицине : сборник научных трудов II Международной конференции, 19-22 мая 2015 г., Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 209-210]. |
| Abstract: | In this paper the problems of path delay faults are analyzed. Multi-valued alphabet approach is presented. The combinational circuit was tested using multi-valued alphabet and the test vectors are analyzed. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/17336 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C24-092.pdf | 390,92 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.