Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332| Title: | Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении |
| Authors: | Курмангалиев, Р. Х. Кравченко, Евгений Владимирович |
| Keywords: | показатели; надежность; диоды; силовые полупроводниковые диоды; силовые полупроводниковые приборы; числовое моделирование |
| Issue Date: | 2014 |
| Citation: | Курмангалиев Р. Х. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении / Р. Х. Курмангалиев, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 258-262]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2014-C02-052.pdf | 563,37 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.