Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45519
Title: | Моделирование на ЭВМ распределений по глубине нанокластеров вакансионного типа в материалах, облученных ионами |
Authors: | Купчишин, А. И. Купчишин, А. А. Шмыгалева, Т. А. Есхожаева, С. М. |
Keywords: | электронные ресурсы; металлы; сплавы; ионно-имплантированные примеси; каскадно-вероятностные функции; нанокластеры; ионы |
Issue Date: | 2017 |
Citation: | Моделирование на ЭВМ распределений по глубине нанокластеров вакансионного типа в материалах, облученных ионами / А. И. Купчишин [и др.] // Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017) : сборник научных трудов VI Международной научно-технической конференции молодых ученых, аспирантов и студентов, г. Томск, 27–29 ноября 2017 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — [С. 150-151]. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45519 |
Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2017-C17_p150-151.pdf | 649,64 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.