Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076
Название: | Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques |
Авторы: | Пустовалова, Алла Александровна Иванова, Нина Михайловна |
Научный руководитель: | Пичугин, Владимир Федорович |
Ключевые слова: | тонкие пленки; диоксид титана; рентгеновская дифракция; ИК-спектроскопия |
Дата публикации: | 2015 |
Библиографическое описание: | Пустовалова А. А. Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques / А. А. Пустовалова, Н. М. Иванова ; науч. рук. В. Ф. Пичугин // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 1079-1081]. |
Аннотация: | В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076 |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2015-C21-343.pdf | 320,09 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.