Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326| Title: | Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2 |
| Authors: | Колесов, И. В. Кравченко, Евгений Владимирович |
| Keywords: | надежность; диодные модули; полупроводниковые модули; полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 2014 |
| Citation: | Колесов И. В. Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2 / И. В. Колесов, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 205-209]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2014-C02-044.pdf | 598,16 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.