Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39631| Title: | Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419 |
| Authors: | Лачков, Иван Евгеньевич |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Шестаков, Василий Васильевич |
| Keywords: | модуль; микросхема памяти; микроконтроллер; интерфейс; ДМТ 419; module; DMT 419; chip memory; interface; flash memory |
| Issue Date: | 2017 |
| Citation: | Лачков И. Е. Модуль тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе измерительного комплекса ДМТ-419 : бакалаврская работа / И. Е. Лачков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК) ; науч. рук. В. В. Шестаков. — Томск, 2017. |
| Abstract: | Цель выпускной квалификационной работы разработка модуля тестирования микросхем памяти с последовательным доступом на базе комплекса ДМТ 419. Разрабатываемый модуль используется для тестирования микросхем памяти, используемых в неблагоприятных условиях. По итогам работы был разработан модуль и программное обеспечение для ДМТ 419. The theme of my scientific work is the development of a module for testing memory chip based on the DMT 419 complex. This device analyzes the state of microchips after exposure to ionizing radiation. As a result, a module for testing memory chips based on the DMT 419. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39631 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| TPU391176.pdf | 1,01 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.