Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44791| Title: | Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле |
| Authors: | Лепёшкина, Е. С. Чекмарёв, С. А. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Ханов, В. Х. |
| Keywords: | инъектирование; сбои; микропроцессоры; космическое приборостроение; микропроцессорные системы; космическое излучение |
| Issue Date: | 2017 |
| Citation: | Лепёшкина Е. С. Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле / Е. С. Лепёшкина, С. А. Чекмарёв ; науч. рук. В. Х. Ханов // "Орбита молодёжи" и перспективы развития российской космонавтики : сборник докладов Всероссийской молодёжной научно-практической конференции, г. Томск, 18-22 сентября 2017 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — [С. 113-114]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44791 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2017-C121_p114-115.pdf | 164,23 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.