Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44791| Название: | Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле |
| Авторы: | Лепёшкина, Е. С. Чекмарёв, С. А. |
| Научный руководитель: | Ханов, В. Х. |
| Ключевые слова: | инъектирование; сбои; микропроцессоры; космическое приборостроение; микропроцессорные системы; космическое излучение |
| Дата публикации: | 2017 |
| Библиографическое описание: | Лепёшкина Е. С. Метод внутрикристального инъектирования сбоев в реальном времени для тестирования сбоеустойчивых микропроцессоров типа система-на-кристалле / Е. С. Лепёшкина, С. А. Чекмарёв ; науч. рук. В. Х. Ханов // "Орбита молодёжи" и перспективы развития российской космонавтики : сборник докладов Всероссийской молодёжной научно-практической конференции, г. Томск, 18-22 сентября 2017 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — [С. 113-114]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/44791 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2017-C121_p114-115.pdf | 164,23 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.