Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72134
Title: Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов
Authors: Люй, Айцзя -
metadata.dc.contributor.advisor: Воронова, Гульнара Альфридовна
Keywords: атомно-силовая микроскопия; анодированный оксид алюминия; обработка изображений АСМ; Gwddion; анализ изображений; atomic force microscopy; anodized aluminum oxide; AFM image processing; Gwddion; image analysis
Issue Date: 2022
Citation: Люй А. -. Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов : бакалаврская работа / А. -. Люй ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ), Отделение материаловедения (ОМ) ; науч. рук. Г. А. Воронова. — Томск, 2022.
Abstract: В ходе исследования проведен литературный обзор современного состояния изучения анодированного алюминия с помощью атомно-силовой микроскопии, разработка методов обработки АСМ-изображений, исследования поверхности анодированного алюминия. По результатам исследования установлено, что применение АСМ имеет актуальную повестку дня, использование различных методов обработки АСМизображений не всегда позволяет избежать дефектов и посторонних предметов при сканировании образцов.
In the course of the study, a literary review of the current state of the study of anodized aluminum using atomic force microscopy, the development of methods for processing AFM images, and the study of the surface of anodized aluminum was carried out. According to the results of the study, it was found that the use of AFM has an urgent agenda, the use of various AFM image processing methods does not always avoid defects and foreign objects when scanning samples.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72134
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
TPU1373564.pdf1,41 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.