Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45519
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКупчишин, А. И.ru
dc.contributor.authorКупчишин, А. А.ru
dc.contributor.authorШмыгалева, Т. А.ru
dc.contributor.authorЕсхожаева, С. М.ru
dc.date.accessioned2017-12-20T04:10:06Z-
dc.date.available2017-12-20T04:10:06Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationМоделирование на ЭВМ распределений по глубине нанокластеров вакансионного типа в материалах, облученных ионами / А. И. Купчишин [и др.] // Высокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017) : сборник научных трудов VI Международной научно-технической конференции молодых ученых, аспирантов и студентов, г. Томск, 27–29 ноября 2017 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — [С. 150-151].ru
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/45519-
dc.language.isoruen
dc.relation.ispartofВысокие технологии в современной науке и технике (ВТСНТ-2017) : сборник научных трудов VI Международной научно-технической конференции молодых ученых, аспирантов и студентов, г. Томск, 27–29 ноября 2017 г. — Томск, 2017.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectэлектронные ресурсыru
dc.subjectметаллыru
dc.subjectсплавыru
dc.subjectионно-имплантированные примесиru
dc.subjectкаскадно-вероятностные функцииru
dc.subjectнанокластерыru
dc.subjectионыru
dc.titleМоделирование на ЭВМ распределений по глубине нанокластеров вакансионного типа в материалах, облученных ионамиru
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.description.firstpage150-
local.description.lastpage151-
local.filepathconference_tpu-2017-C17_p150-151.pdf-
local.identifier.bibrecRU\TPU\conf\24657-
local.localtypeДокладru
local.conference.nameВысокие технологии в современной науке и технике-
local.conference.date2017-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2017-C17_p150-151.pdf649,64 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.