Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089
Название: Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения
Авторы: Виничук, Сергей Владимирович
Научный руководитель: Черепенников, Юрий Михайлович
Ключевые слова: когерентное дифракционное излучение; диагностика электронных пучков; моделирование; микротрон ТПУ; Ускоритель LUCX; coherent diffraction radiation; electron beam diagnostics; wolfram Mathematica; microtron TPU; accelerator LUCX
Дата публикации: 2021
Библиографическое описание: Виничук С. В. Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения : бакалаврская работа / С. В. Виничук ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ) ; науч. рук. Ю. М. Черепенников. — Томск, 2021.
Аннотация: Современные лазерно-плазменные ускорители позволяют получать и ускорять электронные сгустки субпикосекундной длительности, для которых отсутствуют средства диагностики требуемой точности. Распространенный метод измерения длительности электронных сгустков основан на использовании стрик – камеры, точность которого не превышает 1 мм. Использование метода, основанного на спектрально-угловых измерения когерентного переходного излучения, позволяет улучшить точность. Использование КДИ для этой цели обеспечивает неинвазивный характер диагностики. В ходе выполнения ВКР были исследованы возможности использования когерентного дифракционного излучения (КДИ) от щелевой мишени со смещением для измерения длины электронного сгустка.
Modern laser-plasma accelerators make it possible to obtain and accelerate electron bunches of subpicosecond duration, for which there are no diagnostic tools of the required accuracy. A common method for measuring the duration of electron bunches is based on the use of a streak camera, the accuracy of which does not exceed 1 mm. The use of a method based on spectral-angular measurements of coherent transition radiation makes it possible to improve the accuracy. The use of CDR for this purpose provides a non-invasive diagnostic character. In the course of graduation project , the possibilities of using coherent diffraction radiation (CDR) from an offset slit target to measure the length of an electron bunch were investigated.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089
Располагается в коллекциях:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU1167489.pdf1,72 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.