Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117| Title: | Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции |
| Authors: | Завазиева, Д. Т. Сыртанов, Максим Сергеевич |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Сыртанов, Максим Сергеевич |
| Keywords: | толщина; покрытия; никель; рентгеновская дифракция |
| Issue Date: | 2015 |
| Citation: | Завазиева Д. Т. Определение толщины никелевого покрытия методом рентгеновской дифракции / Д. Т. Завазиева, М. С. Сыртанов ; науч. рук. М. С. Сыртанов // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 109-111]. |
| Abstract: | In this paper was presented the X-Ray diffraction method for determination of the nickel coating thickness. Nickel coating promotes rapid sorption of hydrogen and prevents formation of oxide film on the surface of metals and alloys. Non-destructive X-ray method allows to choose the optimal thickness of the nickel film. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19117 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C21-027.pdf | 201,56 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.