Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67061
Title: Осаждение нитрида кремния с помощью магнетронного распыления с ионным-ассистированием
Authors: Федорова, Алена Игоревна
metadata.dc.contributor.advisor: Юрьев, Юрий Николаевич
Keywords: нитрид кремния; магнетрон; показатель преломления; концентрация связей Si-N; ионное ассистирование; осаждение; silicon nitride; magnetron; refractive index; concentration of Si-N bonds; ion assisted; sedimentation
Issue Date: 2021
Citation: Федорова А. И. Осаждение нитрида кремния с помощью магнетронного распыления с ионным-ассистированием : бакалаврская работа / А. И. Федорова ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение экспериментальной физики (ОЭФ) ; науч. рук. Ю. Н. Юрьев. — Томск, 2021.
Abstract: В данной работе исследуется процесс магнетронного напыления нитрида кремния с использованием ионного ассистирования плазмой ВЧ разряда. Для повышения скорости напыления и минимизации влияния азота на мишень из Si реализован методы раздельного напыления когда азот подается к ВЧ источнику плазмы, а аргон к мишени.
In this work, we investigate the process of magnetron sputtering of silicon nitride using ion assisted RF discharge plasma. Separate deposition methods have been implemented where nitrogen is supplied to the RF plasma source and argon to the target to increase the deposition rate and minimize the effect of nitrogen on the Si target.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67061
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
TPU1165898.pdf1,83 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.