Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Название: | Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов |
Авторы: | Рахимов, Рафаэль Саматович |
Научный руководитель: | Лавринович, Валерий Александрович |
Ключевые слова: | диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой; диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой |
Дата публикации: | 2016 |
Библиографическое описание: | Рахимов Р. С. Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов : дипломный проект / Р. С. Рахимов ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016. |
Аннотация: | Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов.
Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда.
В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом.
Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда.
Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА.
Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий.
Внедрение Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973 |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU138282.pdf | 1,05 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.